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品牌
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Beta LaserMike
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型號(hào)
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283-10
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Bench mike 283系列高精度激光測(cè)徑儀
--測(cè)量精度更高，測(cè)量速度更快
高質(zhì)量的測(cè)量是測(cè)量?jī)x表、測(cè)量方法及測(cè)試人員有機(jī)配合的整體。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測(cè)量?jī)x表比較，bench mike中采用了激光非接觸測(cè)量有理，對(duì)原始測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)采集、處理、數(shù)字顯示等技術(shù)，降低了由于測(cè)量方法及測(cè)量人員造成的誤差。從而提高了整個(gè)測(cè)量的精度。在某些工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)合中，如產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)中，單位時(shí)間內(nèi)須完成大量的測(cè)量。此時(shí)，在兼顧測(cè)量精度的同時(shí)，對(duì)測(cè)量速度提出了更高的要求。Bench mike提供了高速dsp核心處理單元，友好界面的顯示控制軟件及多種接口用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測(cè)量中解放出來。
總之，bench mike不僅是測(cè)量中心，還是一測(cè)量數(shù)據(jù)處理品中心，也是一測(cè)量數(shù)據(jù)交換中心。其具備的強(qiáng)大功能保證了其可應(yīng)用于于廣泛的領(lǐng)域，同時(shí)也使測(cè)量更加簡(jiǎn)單，特別需要指出的是對(duì)于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測(cè)量束手無策的被測(cè)量任務(wù)，bench mike可提供滿意的測(cè)量。
測(cè)量原理
采用激光掃描原理進(jìn)行測(cè)量，激光發(fā)生裝置產(chǎn)生的激光，照射在馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的高速旋轉(zhuǎn)棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測(cè)試區(qū)間中形成標(biāo)準(zhǔn)掃描平行光束，測(cè)試區(qū)間中的被測(cè)量物體遮擋光束形成的陰影，會(huì)在光電收集端形成信號(hào)的階躍，階躍寬度及位置決定了被測(cè)量物體的直徑及在測(cè)試區(qū)間位置值等參數(shù)。
優(yōu)點(diǎn)
■測(cè)量精度高，測(cè)量速度快。使本儀表可滿足不同測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域
■豐富的測(cè)量模式滿足不同的測(cè)量應(yīng)用。
■采用了全新數(shù)據(jù)處理技術(shù)，圖形用戶交互界面、快捷按鍵的使用使測(cè)量更直觀、操作更便利。
■內(nèi)含測(cè)量應(yīng)用庫(kù)及自編輯被測(cè)量功能，配合專門設(shè)計(jì)的夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測(cè)量擴(kuò)充能力。
■單點(diǎn)及雙點(diǎn)自校準(zhǔn)功能減少了使用條件的變化對(duì)測(cè)量的影響，使儀表的維護(hù)更方便。
Bench mike 283系列性能指標(biāo)
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型號(hào)
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283-10
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283-20
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測(cè)試范圍
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0.075-25.4
mm(03006-1.0 in.)
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0.625-50
mm(0.025-2.0 in.)
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復(fù)現(xiàn)性誤差*
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0.25
μm (0.000010 in.)
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0.5μm
(± in.)
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線性誤差**
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±0.9
μm (± 0.000036 in.)
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±1.5μm
(±0.000060 in.)
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測(cè)試區(qū)間范圍
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±0.75x25mm(±0.030x1.0in.)
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±1.5x50mm(±0.060x2.0in.)
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掃描光尺寸
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125
μm (0.005 in.)
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250μm
(0.010 in.)
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掃描光速率
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50m/sec.(2,000
in./sec.)
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100
m/sec.(4,000 in./sec.)
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使用溫度
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7°
to 36° c (45° to 97° f) at < 90% relative humidity
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尺寸(hxwxd)
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254
x 635 x 228 mm (10 x 25 x 9 in.)
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重量
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17
kg(38 lb.)
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顯示
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320
x 240 liquid crystaldisplay; 256 colors
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電源
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100-240
volts ac (+5% to -10%), 50/60 hz (+/-2 hz)100 watts total power
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注：*此數(shù)據(jù)的獲得是通過連續(xù)90次測(cè)量值中的大變化值得出。單次測(cè)量值的獲得是取200次單次掃描測(cè)量值的平均值，測(cè)試時(shí)在測(cè)試區(qū)間的環(huán)境變化應(yīng)足夠的?。ㄐ『涂諝鈱?duì)流，小的溫度變化），測(cè)試中采用了低膨脹標(biāo)準(zhǔn)件，在測(cè)量中標(biāo)準(zhǔn)保持不變。
**線性度誤差在出廠前獲得，測(cè)量時(shí)環(huán)境溫度為68of，相對(duì)溫度為50%。測(cè)試時(shí)在測(cè)試區(qū)間的環(huán)境變化應(yīng)足夠的?。ㄐ『涂諝鈱?duì)流，小的溫度變化），測(cè)試中采用了低膨脹標(biāo)準(zhǔn)件，在測(cè)量中標(biāo)準(zhǔn)保持不變。